產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)：SZT-4

數(shù)字式四探針測(cè)試儀型號(hào)：SZT-4

SZT-4數(shù)字式四探針測(cè)試儀，是二量程的電阻測(cè)量?jī)x器，配以手持式測(cè)試頭或座式測(cè)試架，可用來測(cè)量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。(客戶根據(jù)不同的要求可以選擇不同的量程，Z小可以測(cè)量0.0001Ω Z大可以測(cè)量100000Ω,根據(jù)電流檔定精度)通過對(duì)恒流源的調(diào)整，可以對(duì)某些測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修整，例如對(duì)普通硅材料的測(cè)試結(jié)果要乘以0.628的探險(xiǎn)頭修正系數(shù)，對(duì)硅材料薄層擴(kuò)散和導(dǎo)電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數(shù)為4.53等均可通過調(diào)正恒流電流加以處理。SZT－4數(shù)字式四探針測(cè)試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對(duì)重?zé)捇亓系姆诌x。 
本儀器工作環(huán)境條件為： 
溫　　度：18℃―25℃ 
相對(duì)濕度：60%－80% 
工作室內(nèi)應(yīng)無強(qiáng)電場(chǎng)干擾，不與高頻設(shè)備共用電源。 
二，SZT-4數(shù)字式四探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù) 
1,測(cè)量范圍 
電 阻 率:0.01-200Ω-cm 
方塊電阻:0.01-200Ω-口 
電    阻:0.01-200.0 
2,數(shù)字電壓表  
(1)量    程:200mV單一量程 
(2)誤    差:讀數(shù) ±0.2%±3字 
(3)輸入電阻:>10MΩ 
3,恒流源 
(1)電流輸出:0~10mA連續(xù)可調(diào) 
(2)量    程:1mA, 10mA 
(3)誤    差:±0.2%±3字, 
4,手持式四探針測(cè)試頭 
(1)探  針  間  距:1mm 
(2)探針機(jī)械游移率:±1.0% 
(3)探  針  材  料:碳化鎢,φ0. 
(4)壓力:Z大 2Kg 
5,電源:220V±10%：50Hz 
功耗：5W 
6，外形尺寸： 
7，使用方法：取出儀器平放於桌上，將三芯電源線接入儀器的電源插座中，并接通交流電壓（220V），再將測(cè)試探頭的插頭插入相應(yīng)的插座中，按下電源開關(guān)使儀器得電，儀器上的數(shù)字電壓表就有讀數(shù)顯示，如果面板上的二個(gè)功能開關(guān)全部處?kù)稄棾鰻顟B(tài)，則二個(gè)開關(guān)旁邊的“調(diào)整”指示燈和：“1mA”指示燈將被點(diǎn)亮，此時(shí)旋轉(zhuǎn)電流調(diào)節(jié)旋鈕電壓表讀數(shù)就會(huì)發(fā)生有規(guī)則的變化，這說明儀器已經(jīng)可以正常工作。 
下一步就可以跟據(jù)測(cè)試的須要對(duì)電流進(jìn)行調(diào)整。電流調(diào)整應(yīng)該將電流開關(guān)放在10mA的位置上。 
8，電流調(diào)整： 
（1）半導(dǎo)體（硅）材料的電阻率測(cè)試：在10mA電流量程上將電流調(diào)到6.28mA,相當(dāng)于在10mA電流情況下測(cè)得的結(jié)果,乘以探頭修正系數(shù)0.628。由於恒流源的調(diào)整，1mA和10mA是同步的，在`10mA調(diào)準(zhǔn)以后1mA量程同樣包含有這個(gè)修正系數(shù)。 
（2）半導(dǎo)體（硅）材料薄層擴(kuò)散，玻璃或塑料的薄導(dǎo)電鍍復(fù)層的方塊電阻 測(cè)試:在10mA電流量程上將電流調(diào)至4.53mA, 測(cè)得結(jié)果乘以10,就是方塊電阻。 
（3）電阻測(cè)試：電阻測(cè)試不能使用探頭，必須換用帶有鱷魚夾子的四線插頭“電阻測(cè)試線”（選配件）。電流調(diào)到10mA,電壓表的顯示值就是電阻值，不用修正。 
（4）在做好測(cè)試前的準(zhǔn)備工作之后，取下探頭保護(hù)蓋，將探頭壓在被測(cè)工件上，使四根探針和工件保持良好接觸， 
使用時(shí)的注意事項(xiàng)； 
（1）保護(hù)蓋取下后一定要保存好，用畢仍要蓋好，以防探針損壞。 
（2）儀器操作時(shí)，應(yīng)備戴乾燥手套，操作場(chǎng)地，桌椅均應(yīng)保持乾燥。 
（3）在被測(cè)材料外形尺寸允許的情況下，建議使用臺(tái)式測(cè)試架（選購(gòu)件），可使測(cè)試精度和穩(wěn)定性都會(huì)有所提高。 
（4）對(duì)於被測(cè)工件為片狀其厚度<3.49毫米時(shí),還應(yīng)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行厚度修正,修正參數(shù)見參數(shù)表,附錄`1A和附錄1B 。 
（5）附錄2，是對(duì)片狀工件外形（園形，矩形）和測(cè)量位置的修正參數(shù)表。